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ZL2855型材料高频介电常数介质损耗测试仪

ZL2855高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、ZL2855型高频Q表、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电

ZL2855高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、ZL2855型高频Q表、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。


技术指标:

测试频率范围:100KHZ-110MHZ  (6位有效数字)    

调谐电容误差:大于150pF时,±1% 小于150pF时,±1pF    分辨率0.1pF

Q值误差:小于5%      Q值分辨率:4位有效数 分辨率0.1

介电常数(ε)显示:   0.1%    

介质损耗(tanδ)显示:  0.03%


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